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Built-In Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design: A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach

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Lieferstatus:	i.d.R. innert 5-10 Tagen versandfertig
Veröffentlichung:	März 2024
Genre:	EDV / Informatik
ISBN:	9789811985539
EAN-Code:	9789811985539
Verlag:	Springer
Einband:	Kartoniert
Sprache:	English
Dimensionen:	H 235 mm / B 155 mm / D 18 mm
Gewicht:	493 gr
Seiten:	324
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Inhalt:

Chapter 1: Introduction.- Chapter 2: Fault-tolerant general circuits with 3S.- Chapter 3: Fault-tolerant general purposed processors with 3S.- Chapter 4: Fault-tolerant network-on-chip with 3S.- Chapter 5: Fault-tolerant deep learning processors with 3S.- Chapter 6: Conclusion.