| Sortierung: Titel - Veröffentlichung |
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| Herausgeber von: |
 | VLSI-SoC: Technology Advancement on SoC Design - 29th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2021, Singa (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: September 2022 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 69.00 bestellen |
 | VLSI-SoC: Technology Advancement on SoC Design - 29th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2021, Singa (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Oktober 2023 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 69.00 bestellen |
 | VLSI-SoC: The Advanced Research for Systems on Chip - 19th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2011, (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: August 2012 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 70.00 bestellen |
 | VLSI-SoC: The Advanced Research for Systems on Chip - 19th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2011, (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: September 2014 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 70.00 bestellen |
| Autor von: |
 | Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained IoT Edge Devices (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Januar 2024 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 109.00 bestellen |
 | Early Soft Error Reliability Assessment of Convolutional Neural Networks Executing on Resource-Constrained IoT Edge Devices (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Januar 2023 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 109.00 bestellen |
 | Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Juli 2018 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 70.00 bestellen |
 | Electromigration Inside Logic Cells: Modeling, Analyzing and Mitigating Signal Electromigration in NanoCMOS (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Dezember 2016 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 70.00 bestellen |
 | Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Juni 2006 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 135.00 bestellen |
 | Fault-Tolerance Techniques for SRAM-Based FPGAs (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: November 2010 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 135.00 bestellen |
 | Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: März 2021 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 134.00 bestellen |
 | Mitigating Process Variability and Soft Errors at Circuit-Level for FinFETs (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: März 2022 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 96.00 bestellen |
 | Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: Oktober 2013 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 135.00 bestellen |
 | Protecting Chips Against Hold Time Violations Due to Variability (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: August 2016 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 135.00 bestellen |
 | Soft Error Reliability Using Virtual Platforms: Early Evaluation of Multicore Systems (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: November 2020 (Auf Bestellung) Einband: Gebunden | SFr. 134.00 bestellen |
 | Soft Error Reliability Using Virtual Platforms: Early Evaluation of Multicore Systems (Buch) Sprache: English Veröffentlichung: November 2021 (Auf Bestellung) Einband: Kartoniert | SFr. 134.00 bestellen |
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