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Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes Naturwissensch., Medizin, Technik 
65.00 
Buch   Sprache: Englisch / Autor: Stefan Ferdinand Müller / Einband: Kartoniert 
 
 
Reliability of high-k / metal gate field-effect transistors considering circuit operational constraints Naturwissensch., Medizin, Technik 
40.90 
Buch   Sprache: Englisch / Autor: Steve Kupke / Einband: Kartoniert 
 
 
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