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Artikel-Nr. 3950117


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Herausgeber: 
  • Khader S. Abdel-Hafez
  • Wen-Ben Jone
  • Kapur Rohit
  • Brion Keller
  • Kuen-Jong Lee
  • James C.-M. Li
  • Li Mike Peng
  • Li Xiaowei
  • T.M. Mak
  • Yinghua Min
  • Nadeau-Dostie Benoit
  • Soumendu Bhattacharya
  • Mehrdad Nourani
  • Rajski Janusz
  • Erik H. Volkerink
  • Duncan M. (Hank) Walker
  • Shianling Wu
  • Chatterjee Abhijit
  • Chen Xinghao
  • William Eklow
  • Michael S. Hsiao
  • Huang Jiun-Lang
  • Huang Shi-Yu
  • Charles Stroud
  • Kwang-Ting (Tim) Cheng
  • Nur A. Touba
    Autor(en): 
  • Wang Laung-Terng
  • Wu Cheng-Wen
  • Wen Xiaoqing
  • VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  August 2006  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    Circuits & components / Electronics# circuits and components / TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Circuits / General
    ISBN:  9780123705976 
    EAN-Code: 
    9780123705976 
    Verlag:  Elsevier 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 191 mm / D 52 mm 
    Gewicht:  1770 gr 
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    Inhalt:
    This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

      



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