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Herausgeber: 
  • Adam Krzyzak
  • Ching Y. Suen
  • Andrea Torsello
  • Nicola Nobile
  • Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition: Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27, 2022, 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 5-10 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Januar 2023  
    Genre:  EDV / Informatik 
     
    ArtificialIntelligence / ComputerNetworks / computerscience / computersystems / Computervision / Databases / Diskrete Mathematik / Education
    ISBN:  9783031230271 
    EAN-Code: 
    9783031230271 
    Verlag:  Springer 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 155 mm / D 19 mm 
    Gewicht:  517 gr 
    Seiten:  340 
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    Inhalt:
    This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2022, held in Montreal, QC, Canada, in August 2022.

    The 30 papers together with 2 invited talks presented in this volume were carefully reviewed and selected from 50 submissions. The workshops presents papers on topics such as deep learning, processing, computer vision, machine learning and pattern recognition and much more.

      



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