SFr. 102.00
€ 110.16
BTC 0.0019
LTC 1.497
ETH 0.0365


bestellen

Artikel-Nr. 32285767


Diesen Artikel in meine
Wunschliste
Diesen Artikel
weiterempfehlen
Diesen Preis
beobachten

Weitersagen:



Autor(en): 
  • Thomas Uhrmann
  • Spin Injection in Silicon: Evaluation of sputter-deposited MgO-based tunneling diodes for silicon spintronics 
     

    (Buch)
    Dieser Artikel gilt, aufgrund seiner Grösse, beim Versand als 2 Artikel!


    Übersicht

    Auf mobile öffnen
     
    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  November 2015  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9783838117904 
    EAN-Code: 
    9783838117904 
    Verlag:  Südwestdeutscher Verlag für Hochschulschriften AG  
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 220 mm / B 150 mm / D 11 mm 
    Gewicht:  268 gr 
    Seiten:  168 
    Zus. Info:  Paperback 
    Bewertung: Titel bewerten / Meinung schreiben
    Inhalt:
    The conjunction of charge manipulation in the semiconductor with the electron spin could lead to a whole new era in information technology, called semiconductor spintronics. In a spinFET device the conventional source/drain contacts are replaced by ferromagnetic (FM) electrodes, injecting and detecting spin-polarized current in silicon. The main advantage of this approach is the merge of information processing and storage in one device, employing a magneto-current effect that depends on the relative magnetization of the injector and detector electrode. The use of silicon as a host material for spin polarized current features a big advantage: its outstanding spin lifetime. The so-called conductivity mismatch between the FM contact and silicon is identified as major obstacle for spin injection, where the diodes' resistance area product has to match a narrow resistance window. In the present work the structural, electrical and magnetic properties of ferromagnetic Schottky diodes and MgO-based tunneling diodes have been investigated, employing CoFe/NiFe, NiFe and CoFeB ferromagnetic electrodes, different silicon doping densities and different post-deposition annealing conditions.

      



    Wird aktuell angeschaut...
     

    Zurück zur letzten Ansicht


    AGB | Datenschutzerklärung | Mein Konto | Impressum | Partnerprogramm
    Newsletter | 1Advd.ch RSS News-Feed Newsfeed | 1Advd.ch Facebook-Page Facebook | 1Advd.ch Twitter-Page Twitter
    Forbidden Planet AG © 1999-2024
    Alle Angaben ohne Gewähr
     
    SUCHEN

     
     Kategorien
    Im Sortiment stöbern
    Genres
    Hörbücher
    Aktionen
     Infos
    Mein Konto
    Warenkorb
    Meine Wunschliste
     Kundenservice
    Recherchedienst
    Fragen / AGB / Kontakt
    Partnerprogramm
    Impressum
    © by Forbidden Planet AG 1999-2024