|
Sistema CTS: Real'naq diagramma sostoqnij i osobennosti älektrofizicheskih swojstw
|
(Buch) |
Dieser Artikel gilt, aufgrund seiner Grösse, beim Versand als 2 Artikel!
Inhalt: |
Postroena fazowaq h-T diagramma (T= 25 °S) sistemy PbZr1-xTixO3 w polnom interwale rastworimosti komponentow 0.00 ¿ x ¿ 1.00. Ustanowleno, chto s rostom x proishodit periodicheskoe izmenenie fazowogo sostawa twerdyh rastworow, skorosti umen'sheniq ob#ema qchejki, älektrofizicheskih parametrow i plotnosti keramiki. Pokazano, chto nemonotonnyj harakter izmenenij älektrofizicheskih parametrow obuslowlen razlichnym wkladom w ih formirowanie spontannoj deformacii, preobladaüschej w tetragonal'noj faze, i domennyh pereorientacij, otlichnyh ot 180°-nyh, - w romboädricheskoj faze. Prowedena podrobnaq mul'tifraktal'naq parametrizaciq zörennoj struktury keramik. Vyqwleny osobennosti äwolücii mikrostruktury, swqzannye s fazowymi izmeneniqmi w sisteme. Podtwerzhdeny dannye drugih awtorow o tom, chto w interwale 0.11 < x ¿ 0.12 poqwlqütsq klastery tetragonal'noj fazy, i wyskazano predpolozhenie o tom, chto w interwale 0.675 < x< 0.80 poqwlqütsq klastery romboädricheskoj fazy. |
|