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Veröffentlichung:	September 1998
Genre:	Naturwissensch., Medizin, Technik
	Crystal / Diffraction / electronmicroscope / electronmicroscopy / electronoptics / Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie / Microscopy / Optics / Rasterelektronenmikroskopie / scanningelectronmicroscope / scanningtunnelingmicroscopy / Spektroskopie, Spektrochemie, Massenspektrometrie mehr...
ISBN:	9783540639763
EAN-Code:	9783540639763
Verlag:	Springer
Einband:	Gebunden
Sprache:	English
Dimensionen:	H 241 mm / B 160 mm / D 35 mm
Gewicht:	975 gr
Seiten:	544
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Inhalt:

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.