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Autor(en): 
  • James E. Morris
  • Cristina Andersson
  • Johan Liu
  • Olli Salmela
  • Jussi Sarkka
  • Per-Erik Tegehall
  • Reliability of Microtechnology: Interconnects, Devices and Systems 
     

    (Buch)
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    Übersicht
     
    Lieferstatus:   i.d.R. innert 5-10 Tagen versandfertig
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9781489982117 
    EAN-Code: 
    9781489982117 
    Verlag:  Springer New York 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 155 mm / D 12 mm 
    Gewicht:  339 gr 
    Seiten:  220 
    Zus. Info:  Previously published in hardcover 
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    Inhalt:
    This text discusses the reliability of microtechnology products from the bottom up, beginning with devices and extending to systems. It covers many topics, and it addresses specific failure modes in solder and conductive adhesives at great length.
      
     Empfehlungen... 
     Reliability of Microtechnology: Interconnects, Dev - (Buch)
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