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Veröffentlichung:	Dezember 2018
Genre:	Naturwissensch., Medizin, Technik
	On-ChipInstrumentation / Post-siliconandRuntimeVerification / Post-siliconDebugSoftware / Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf / TestReductionforQuickErrorDetection / Trace-basedPost-SiliconValidation
ISBN:	9783030074548
EAN-Code:	9783030074548
Verlag:	Springer
Einband:	Kartoniert
Sprache:	English
Dimensionen:	H 235 mm / B 155 mm / D 23 mm
Gewicht:	622 gr
Seiten:	412
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Inhalt:

This book provides a comprehensive coverage of System-on-Chip (SoC) post-silicon validation and debug challenges and state-of-the-art solutions with contributions from SoC designers, academic researchers as well as SoC verification experts. The readers will get a clear understanding of the existing debug infrastructure and how they can be effectively utilized to verify and debug SoCs.