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Herausgeber: 
  • Rainer Moufang
  • Cornelia Rudloff-Schäffer
  • Patentgesetz mit Europäischem Patentübereinkommen: Kommentar 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Vorankündigung
    Veröffentlichung:  ANGEKÜNDIGT (November 2024)  
    Genre:  Wirtschaft / Recht 
     
    Anmeldeämter / Einheitliche Patentgericht / EPÜ / Europa / Patentgesetz / Verletzungsverfahren
    ISBN:  9783452303301 
    EAN-Code: 
    9783452303301 
    Verlag:  Heymanns C. 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  Deutsch  
    Seiten:  3200 
    Zus. Info:  GB 
    Bewertung: Keine Bewertung vor Veröffentlichung möglich.
    Inhalt:

    Klug im Detail, bewährt in der Praxis

    National und europäisch denken! Die Autor:innen erläutern das voll harmonisierte materielle deutsche und europäische Patentrecht in einem Zug. Gemeinsamkeiten und Unterschiede im Verfahrensrecht werden deutlich. Wo sich Regelungen, Amtspraxis oder Rechtsprechung unterscheiden, stellt die Kommentierung das klar heraus.

    Lässt keine Fragen offen

    Wer sicher sein will, wie die Praxis der Anmeldeämter und Gerichte aussieht, greift nach dieser etablierten Kommentierung. Konsequent an den Bedürfnissen der Praxis ausgerichtet, verbindet der Kommentar in gewohnter Methodik konzise Sprache mit Präzision bis ins Detail.

    Genutzt wie kein anderer! Patentprüfer:innen und Richter:innen auf der einen Seite sowie Patent- und Rechtsanwält:innen auf der anderen nutzen den Kommentar als tägliches Arbeitsmittel in Erteilungs- wie auch Verletzungsverfahren.

    NEU in der 12. Auflage: Das Einheitspatent und das einheitliche Patentgericht werden regelungsbezogen berücksichtigt. Die Herausgeberschaft übernehmen ab dieser Auflage Cornelia Rudloff-Schäffer und Dr. Rainer Moufang.

    Herausgeber/:innen: Dr. Rainer Moufang (Hrsg. und Autor), Vorsitzender einer Technischen Beschwerdekammer und Mitglied der Grossen Beschwerdekammer des Europäischen Patentamts, a.D. Cornelia Rudloff-Schäffer (Hrsg. und Autorin), Präsidentin des DPMA a.D. und Mitglied des Verwaltungsrats des Europäischen Patentamts

    Autor:innen: Hochkarätige Richter:innen der deutschen und europäischen Patentrechtspraxis: Dr. Lena Gräwe, Richterin am Landgericht Düsseldorf Ilse Püschel, Richterin am Bundespatentgericht a.D. (Juristischer Beschwerde- und Nichtigkeitssenat) Jürgen Schell, Richter am Bundespatentgericht (Nichtigkeits- und Technischer Beschwerdesenat) Dr. Rainer Schulte, Vorsitzender der Juristischen Beschwerdekammer des Europäischen Patentamts und Richter am Bundespatentgericht i.R. Thomas Voit, Vorsitzender Richter am Bundespatentgericht (6. Nichtigkeitssenat) Dr. Daniel Voss, Vorsitzender Richter am Landgericht Düsseldorf (4b Zivilkammer - Patentstreitkammer).

      
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