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Artikel-Nr. 19564072


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Autor(en): 
  • Abdelkhalak El Hami
  • Philippe Pougnet
  • Pierre-Richard Dahoo
  • Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 14-24 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  August 2016  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9781848219366 
    EAN-Code: 
    9781848219366 
    Verlag:  Turner Publishing Company 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 240 mm / B 161 mm / D 22 mm 
    Gewicht:  642 gr 
    Seiten:  316 
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    Inhalt:
    This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

    Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the reader with an insight into the current understanding of physicochemical processes affecting the properties of materials at the nanoscale.

      
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