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Herausgeber: 
  • Sascha Sadewasser
  • Thilo Glatzel
  • Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  November 2013  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    B / Chemistry and Materials Science / Engineering thermodynamics / Engineering Thermodynamics, Heat and Mass Transfer / Heat engineering / Heat transfer / Mass transfer / Materials—Surfaces / Surface chemistry & adsorption / Surfaces and Interfaces, Thin Films / Surfaces, Interfaces and Thin Film / Thermodynamics / Thermodynamics & heat / Thin films
    ISBN:  9783642271137 
    EAN-Code: 
    9783642271137 
    Verlag:  Springer Nature EN 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Serie:  #48 - Springer Series in Surface Sciences  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 155 mm / D  
    Gewicht:  528 gr 
    Seiten:  334 
    Zus. Info:  Previously published in hardcover 
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    Inhalt:
    Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the expert.

      
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