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Lieferstatus:	Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
Veröffentlichung:	April 2022
Genre:	Naturwissensch., Medizin, Technik
	Chemie / chemistry / Dünne Schicht / Ellipsometrie / Materials Characterization / Materials science / Materialwissenschaften / Physics / Physik / polymer physics / Polymerphysik / spectroscopy / Spektroskopie / Werkstoffprüfung
ISBN:	9783527349517
EAN-Code:	9783527349517
Verlag:	Wiley-Vch
Einband:	Kartoniert
Sprache:	English
Dimensionen:	H 244 mm / B 170 mm / D 11 mm
Gewicht:	408 gr
Seiten:	208
Illustration:	farbige Illustrationen
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Inhalt:

Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.