SFr. 189.00
€ 204.12


bestellen

Artikel-Nr. 3140292


Diesen Artikel in meine
Wunschliste
Diesen Artikel
weiterempfehlen
Diesen Preis
beobachten

Weitersagen:



Autor(en): 
  • Erik Larsson
  • Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization 
     

    (Buch)
    Dieser Artikel gilt, aufgrund seiner Grösse, beim Versand als 3 Artikel!


    Übersicht

    Auf mobile öffnen
     
    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  November 2005  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    B / Circuits and Systems / Electrical and Electronic Engineering / Electrical Engineering / Electronic circuits / Electronic Circuits and Systems / Electronic devices & materials / Electronic materials
    ISBN:  9781402032073 
    EAN-Code: 
    9781402032073 
    Verlag:  Springer EN 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Serie:  #29 - Frontiers in Electronic Testing  
    Dimensionen:  H 232 mm / B 156 mm / D  
    Gewicht:  1660 gr 
    Seiten:  388 
    Illustration:  XX, 388 p. 
    Zus. Info:  EUDR exemption - product or manufacturing materials placed on the market prior to 31.12.2025. 
    Bewertung: Titel bewerten / Meinung schreiben
    Inhalt:
    SOC test design and its optimization is the topic of this book, and the aim is to give an introduction to testing, describe the problems related to SOC testing, discuses the modeling granularity and the implementation into EDA (electronic design automation) tools. It first introduces readers to test problems including faults, fault types, design-flow, design-for-test techniques such as scan-testing and Boundary Scan. Then it discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling. The final part focuses on SOC applications, such as integrated test scheduling and TAM design, defect-oriented scheduling, and integrating test design with core selection process. Intended for graduate students and PhD-students working in the test field, the manual also aids researchers and professors who would like to get into the area of SOC testing.

      



    Wird aktuell angeschaut...
     

    Zurück zur letzten Ansicht


    AGB | Datenschutzerklärung | Mein Konto | Impressum | Partnerprogramm
    Newsletter | 1Advd.ch RSS News-Feed Newsfeed | 1Advd.ch Facebook-Page Facebook | 1Advd.ch Twitter-Page Twitter
    Forbidden Planet AG © 1999-2026
    Alle Angaben ohne Gewähr
     
    SUCHEN

     
     Kategorien
    Im Sortiment stöbern
    Genres
    Hörbücher
    Aktionen
     Infos
    Mein Konto
    Warenkorb
    Meine Wunschliste
     Kundenservice
    Recherchedienst
    Fragen / AGB / Kontakt
    Partnerprogramm
    Impressum
    © by Forbidden Planet AG 1999-2026