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Autor(en): 
  • Jorma Kivilahti
  • Tomi Laurila
  • Vesa Vuorinen
  • Mervi Paulasto-Kröckel
  • Toni T. Mattila
  • Markus Turunen
  • Interfacial Compatibility in Microelectronics: Moving Away from the Trial and Error Approach 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Februar 2014  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9781447160687 
    EAN-Code: 
    9781447160687 
    Verlag:  Springer London 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Serie:  Microsystems  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 155 mm / D 13 mm 
    Gewicht:  353 gr 
    Seiten:  228 
    Zus. Info:  Paperback 
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    Inhalt:
    Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the "traditional" method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced.

    In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes:

     solutions to several common reliability issues in microsystem technology,

     methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and

     an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA.

    Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.

      
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