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Autor(en): 
  • John Zhang
  • Tao Sun
  • Examen de quelques algorithmes de détection de caractéristiques locales 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  April 2024  
    Genre:  Wirtschaft / Recht 
    ISBN:  9786207393596 
    EAN-Code: 
    9786207393596 
    Verlag:  Editions Notre Savoir 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  Français  
    Dimensionen:  H 220 mm / B 150 mm / D 6 mm 
    Gewicht:  149 gr 
    Seiten:  88 
    Zus. Info:  Paperback 
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    Inhalt:
    L'intelligence artificielle et la reconnaissance faciale gagnant en importance dans les applications, les techniques de détection des caractéristiques locales sont de plus en plus utilisées. De nombreux algorithmes de détection des caractéristiques locales ont été développés au cours des dernières décennies. Le choix de l'algorithme le plus approprié pour une application est une tâche difficile. Ce livre passe en revue certains algorithmes de détection des caractéristiques locales et aide à la sélection des algorithmes dans les applications.

      



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