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Herausgeber: 
  • Thomas Adam
  • Matthias Koch
  • Christian Osterrieth
  • Volkmar Henke
  • Tobias H. Irmscher
  • Lars Birken
  • Britta Kley
  • Gert Kolle
  • Roberto Romandini
  • Magdalena Kolasa
  • Klaus Grabinski
  • Ingo Beckedorf
  • Christof Keussen
  • Jochen Ehlers
  • Uwe Scharen
  • Doris Thums
  • Tilman Quarch
  • Anna Bacchin
  • Rainer Fritsche
  • Heiko Sendrowski
  • Manuel Söldenwagner
  • Jochen Unland
  • Europäisches Patentübereinkommen 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  Mai 2023  
    Genre:  Wirtschaft / Recht 
     
    Benkard / EPA / EPÜ / Europäisches Patentübereinkommen / Patentgesetz / Patentrecht / W-RSW_Rabatt
    ISBN:  9783406761959 
    EAN-Code: 
    9783406761959 
    Verlag:  Beck, C H 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  Deutsch  
    Dimensionen:  H 240 mm / B 160 mm / D 60 mm 
    Gewicht:  1803 gr 
    Seiten:  2142 
    Illustration:  mit 4 Karten 
    Zus. Info:  Leinen 
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    Inhalt:
    Zum Werk Der Kommentar knüpft an die Tradition des "Benkard" zum PatG an und erläutert und vertieft die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern des EPA und dessen Prüfungspraxis. Während sich das Parallelwerk zum PatG vornehmlich an der Rechtsprechung des X. Senats des BGH orientiert, legt der vorliegende Kommentar die Amtspraxis der Prüfungs- und Einspruchsabteilungen dar und erklärt die eigenständige Entwicklung der Rechtsprechung der Beschwerdekammern. Vorteile auf einen Blick
    • Erläuterung durch erfahrene Praktikerinnen und Praktiker
    • gründliche Darstellung nach deutschem Kommentarstandard
    • Mitbehandlung der relevanten Nebenvorschriften
    Zur Neuauflage Die Neuauflage berücksichtigt neben einer Vielzahl aktueller Entscheidungen insbesondere die neuen Richtlinien für die Prüfung im Europäischen Patentamt sowie Fragen zum Europäischen Patent mit einheitlicher Wirkung (EPeW) und dem Einheitlichen Patentgericht (EPG). Zielgruppe Für Rechtsanwaltschaft, Patentanwaltschaft und Patentanwaltskandidatinnen und Patentanwaltskanditen, patentamtliche Prüferinnen und Prüfer, Richterschaft, Erfinderinnen und Erfinder, Rechts- und Patentabteilungen von Wirtschaftsunternehmen.

      
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     Patentrecht: Erfindung, Gebrauchsmuster, Europäisc - (Buch)
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     Europäisches Patentübereinkommen versus US-Patent - (Buch)
     Gesellschaftsrecht - (Buch)
     Europäisches Patentübereinkommen, EPÜ: Europäische - (Buch)
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