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Herausgeber: 
  • Raimund Ubar
  • Jaan Raik
  • Heinrich Theodor Vierhaus
  • Design and Test Technology for Dependable Systems-On-Chip 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   i.d.R. innert 7-14 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Januar 2011  
    Genre:  EDV / Informatik 
    ISBN:  9781609602123 
    EAN-Code: 
    9781609602123 
    Verlag:  Information Science Reference 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 286 mm / B 221 mm / D 35 mm 
    Gewicht:  1701 gr 
    Seiten:  580 
    Zus. Info:  HC gerader Rücken kaschiert 
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    Inhalt:
    Designing reliable and dependable embedded systems has become increasingly important as the failure of these systems in an automotive, aerospace or nuclear application can have serious consequences. Design and Test Technology for Dependable Systems-on-Chip covers aspects of system design and efficient modelling, and also introduces various fault models and fault mechanisms associated with digital circuits integrated into System on Chip (SoC), Multi-Processor System-on Chip (MPSoC) or Network on Chip (NoC). This book provides insight into refined "classical" design and test topics and solutions for IC test technology and fault-tolerant systems.

      



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