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Veröffentlichung:	Oktober 1998
Genre:	Naturwissensch., Medizin, Technik
ISBN:	9780792382959
EAN-Code:	9780792382959
Verlag:	Springer Us
Einband:	Gebunden
Sprache:	English
Dimensionen:	H 241 mm / B 160 mm / D 17 mm
Gewicht:	489 gr
Seiten:	212
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Inhalt:

In that sense, this book is the best x DELAY FAULT TESTING FOR VLSI CIRCUITS available guide for an engineer designing or testing VLSI systems. Tech niques for path delay testing and for use of slower test equipment to test high-speed circuits are of particular interest.