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Herausgeber: 
  • Jaroslav Fiala
  • SNYDER ROBERT
  • Hans J Bunge
  • Defect and Microstructure Analysis by Diffraction 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  Januar 2000  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    Crystallography / SCIENCE / Physics / Crystallography
    ISBN:  9780198501893 
    EAN-Code: 
    9780198501893 
    Verlag:  Oxford Academic 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Serie:  #10 - International Union of Crystallography Monographs on Crystallography  
    Dimensionen:  H 241 mm / B 162 mm / D 48 mm 
    Gewicht:  1486 gr 
    Illustration:  numerous line figures 
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    Inhalt:
    Examines the state of the art for determining the "real" structure of matter. This book provides an analysis of the fundamental theory and techniques for microstructure analysis from diffraction patterns. It presents the principal characterization technique permitting us to measure the defect solid state: X-ray diffraction.
      



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