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Herausgeber: 
  • Dorit Hanein
  • Niels Volkmann
  • Cryo-Electron Tomography: A Journey from Sample Preparation to Data Mining 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Vorankündigung
    Veröffentlichung:  ANGEKÜNDIGT (November 2024)  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9780443188299 
    EAN-Code: 
    9780443188299 
    Verlag:  Elsevier Science 
    Einband:  Kartoniert  
    Sprache:  English  
    Seiten:  360 
    Bewertung: Keine Bewertung vor Veröffentlichung möglich.
    Inhalt:
    Cryo-electron Tomography: A Journey from Sample Preparation to Data Mining offers a comprehensive guide to the latest state-of-the-art methods and techniques available to researchers. The book begins with a section on sample preparation, considering a range of different sample types including virus-like particles, viruses, bacteria, organoids and tissues, with some chapters dedicated to specific tools like in situ cellular tomography and correlative techniques. The book then moves on to a section on data mining and specific steps and methods, delivering a complete overview of this advancing technique and providing researchers with the knowledge and tools required for their own investigations.

      
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