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Herausgeber: 
  • John Banhart
  • Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  März 2008  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9780199213245 
    EAN-Code: 
    9780199213245 
    Verlag:  Oxford Academic 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Serie:  #66 - Monographs on the Physics and  
    Dimensionen:  H 240 mm / B 162 mm / D 25 mm 
    Gewicht:  1 gr 
    Seiten:  490 
    Illustration:  233 halftones and line drawings, 4 page colour plate section 
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    Inhalt:
    Tomography provides three-dimensional images of materials or engineering components and an unprecedented insight into their internal structure. This book, written for applied physicists, materials scientists and engineers, discusses recent developments in the field, such as the extension of tomographic methods to materials research and engineering.
      



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