SFr. 202.00
€ 218.16
BTC 0.0035
LTC 2.672
ETH 0.0687


bestellen

Artikel-Nr. 3174921


Diesen Artikel in meine
Wunschliste
Diesen Artikel
weiterempfehlen
Diesen Preis
beobachten

Weitersagen:



Autor(en): 
  • Wayne M Needham
  • Designer's Guide to Testable ASIC Devices 
     

    (Buch)
    Dieser Artikel gilt, aufgrund seiner Grösse, beim Versand als 3 Artikel!


    Übersicht

    Auf mobile öffnen
     
    Lieferstatus:   i.d.R. innert 14-24 Tagen versandfertig
    Veröffentlichung:  Januar 1991  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
    ISBN:  9780442002213 
    EAN-Code: 
    9780442002213 
    Verlag:  Palgrave Macmillan UK 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 229 mm / B 152 mm / D 21 mm 
    Gewicht:  608 gr 
    Seiten:  284 
    Bewertung: Titel bewerten / Meinung schreiben
    Inhalt:
    While making up a larger percentage of the total number of designs produced each year, ASICs present special problems for system designers in the area of testing because each design is complex and unique. This book shows readers how to apply basic test techniques to ASIC design, details the impact o

      



    Wird aktuell angeschaut...
     

    Zurück zur letzten Ansicht


    AGB | Datenschutzerklärung | Mein Konto | Impressum | Partnerprogramm
    Newsletter | 1Advd.ch RSS News-Feed Newsfeed | 1Advd.ch Facebook-Page Facebook | 1Advd.ch Twitter-Page Twitter
    Forbidden Planet AG © 1999-2024
    Alle Angaben ohne Gewähr
     
    SUCHEN

     
     Kategorien
    Im Sortiment stöbern
    Genres
    Hörbücher
    Aktionen
     Infos
    Mein Konto
    Warenkorb
    Meine Wunschliste
     Kundenservice
    Recherchedienst
    Fragen / AGB / Kontakt
    Partnerprogramm
    Impressum
    © by Forbidden Planet AG 1999-2024