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Autor(en): 
  • John C.H. Spence
  • Jian Min Zuo
  • Advanced Transmission Electron Microscopy: Imaging and Diffraction in Nanoscience 
     

    (Buch)
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    Übersicht

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    Lieferstatus:   Auf Bestellung (Lieferzeit unbekannt)
    Veröffentlichung:  November 2016  
    Genre:  Naturwissensch., Medizin, Technik 
     
    Applied optics / B / Characterization and Analytical Technique / Characterization and Evaluation of Materials / Chemistry and Materials Science / Electronic Devices / Laser / Lasers / Materials science / Nanochemistry / Nanophysics / Nanoscale science / Nanoscale Science and Technology / Nanoscience / Nanostructures / Nanotechnology / Optical physics / Optics, Lasers, Photonics, Optical Devices / Photonics / Solid State Physics / Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry
    ISBN:  9781493966059 
    EAN-Code: 
    9781493966059 
    Verlag:  Springer Nature EN 
    Einband:  Gebunden  
    Sprache:  English  
    Dimensionen:  H 235 mm / B 155 mm / D  
    Gewicht:  13838 gr 
    Seiten:  729 
    Illustration:  XXVI, 729 p. 310 illus., 218 illus. in color., schwarz-weiss Illustrationen, farbige Illustrationen 
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    Inhalt:
    This volume expands and updates the coverage in the authors' classic 1992 book, "Electron Microdiffraction." As the title implies, the focus of the book has changed from electron microdiffraction, or convergent beam electron diffraction, to electron nanodiffraction and the applications of electron diffraction from single crystals as well as general structure analysis of single crystals, powders, and nanostructures. Advanced Transmission Electron Microscopy provides a comprehensive treatment of theory and practice, and is written at a level suitable for advanced undergraduate students and graduate students and researchers in materials science, chemistry, and physics. Practical guides are provided for interpretation and simulation of electron diffraction patterns.
      
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